School of Instrument and Electronics
时间：2020/03/30 发布人：
仪器名称
半导体参数分析仪
设备型号
4200-SCS
技术指标
➢ 直流I-V测试：
➢ 测量范围：100fA-100mA电流；
1μV-210V的电压；
100fA测量分辨率
➢ C-V测试：
➢ 测量范围：从aF级到μF级
➢ 扫描频率：多频（1kHz~10MHz）C-V、
超低频（10mHz~10Hz）C-V和准静态C-V
➢ 扫描电压：0-±30V
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